以下の装置を用いた無機粉体の各種分析を承っております。また、受託試験では、粉体の各種試験及びサンプル作成を承っております。お気軽にお問い合わせください。

分析

粒度分布測定装置

マイクロトラック・ ベル社製
MT-3300EXⅡ
粒度分析装置
レーザー回折・散乱法を用い、レンジ幅が広い(0.02μm ~ 2,000μm)粒度測定及び粒度分布測定が可能です。

X線回析装置

リガク社製
Mini FlexⅡ
粉末X線回折装置
無機試料において結晶構造をもつ化合物のX線回折パターン を測定し、化合物の同定や結晶構造分析が可能です。

蛍光X線分析装置

リガク社製
ZSX PrimusⅡ
蛍光X線分析装置
無機試料において軽元素(ホウ素)から重金属まで様々な元素 定性分析、簡易定量分析が可能です。

受託試験、試料作成

ラボ単位での焼成、微粉化、乾燥など粉体の各種加工を承ります。
まずは試験をやってみたいと思う方、お気軽にお問い合わせください。50g~数kgの少量にて承ります。
■焼成:1,000℃~1,300℃
■微粉化:マイクロからナノスケールまで

※分析の資料、または加工後の試料を試験結果としてお渡しします。